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Contact Mode AFM probes
AFM probe Model ContAl-G - AFM Tip
AFM probe Model ContAl-G

ContAl-G AFM 探针

 适用范围 : 接触式
 概述 :  旋转的单晶硅探针，对称针尖
支架尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm
调节凹槽
 反射涂层 :  30 nm 厚的铝反射涂层
 技术数据 :  振动频率 13 kHz
力常数 0.2 N/m
AFM probe Model ContAl-G - AFM Tip AFM 探针是微制造的单晶硅探针。 它具有优良的均匀度、锐针尖半径。我们能保证针尖半径小于10nm ，以便保证高分辨性和重现性。

这种对称的针尖安装在探针时产生“扫描倾斜角”效果，这能保证200nm 以上的细节的更平衡成像。
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