AFM支架, 半接触式, 间歇接触式 AFM探针, 厚的铝反射涂层, ContAl-G

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AFM probe Model ContAl-G

ContAl-G AFM 探针
适用范围 :	接触式
概述 :	旋转的单晶硅探针，对称针尖支架尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm 调节凹槽
反射涂层 :	30 nm 厚的铝反射涂层
技术数据 :	振动频率 13 kHz 力常数 0.2 N/m

AFM probe Model ContAl-G - AFM Holder Chip

我们的 AFM 支架的尺寸符合产业标准，能适用于大部分的商业 AFM 。它能配上 DI/Veeco AFM, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging 和其他的商业 AFM
在这种产品支架背上有调节凹槽。

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