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Conductive AFM probes
AFM probe Model ElectriMulti75 - AFM Cantilever
AFM probe Model ElectriMulti75

ElectriMulti75 AFM 探针

  适用范围:  力调式、脉冲力成像模式 PFM、电力式
  概述:  旋转的单晶硅探针，对称针尖
支架尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm
  涂层:  双面的导电铬、铂涂层
AFM probe Model ElectriMulti75 - AFM Cantilever AFM 悬臂是微制造的单晶硅悬臂。 它具有优良的均匀度。

本产品可以用于所有的标准原子力显微镜（AFM）并保证优秀的成像。
2007 © BudgetSensors, made by ISB Web division Part of NanoWorld Group
电 力 式:
• 扫描电容显微镜 SCM
• 静电力显微镜 EFM
• 表面电位显微镜 KFM
• 扫描探针平版印刷术
• 别的电力式
悬臂双面可以涂上5nm 厚的导电铬涂层和25nm 厚的电导铂涂层。这种涂层可以增强悬臂的激光束反射性。