english
|
español
|
中文
customer login
AFM probes for Tapping Mode, Intermittent Contact Mode
Force Modulation AFM probes
AFM probes for Contact Mode
Conductive AFM probes
Silicon Nitride AFM probes
Gold Coated AFM probes
Magnetic AFM probes
DLC probes
All -In-One AFM Probes
TipCheck SPM sample
BudgetComboBox
»
AFM（原子力显微镜）针尖
»
AFM悬臂
»
AFM支架
»
包装和价格
« 返回产品详细资料
下载产品数据表
Magnetic
Multi75-G AFM 探针
适用范围:
磁力显微镜设备(MFM)
概述:
旋转的单晶硅探针, 对称针尖
芯片尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm
调节凹槽
涂层:
针尖侧上 —磁性覆盖层
探测器侧上—铝覆盖层
AFM
探针是微制造的单晶硅探针。 它具有优良的均匀度、锐针尖半径。 我们能保证针尖半径小于60nm，以便保证高分辨性和重现性。
这种对称的针尖安装在探针时产生“扫描倾斜角”效果，这能保证
200nm
以上的细节的更平衡成像。
2007 ©
Budget
Sensors
, made by
ISB Web division
Part of
NanoWorld Group
