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Conductive AFM probes
AFM probe Model ElectriMulti75-G - AFM Holder Chip
AFM probe Model ElectriMulti75-G

ElectriMulti75-G AFM 探针

  适用范围:  力调式、脉冲力成像模式 PFM、电力式
  概述:  旋转的单晶硅探针，对称针尖
支架尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm
调节凹槽
  涂层:  双面的导电铬、铂涂层
AFM probe Model ElectriMulti75-G - AFM Holder Chip 我们的 AFM 支架的尺寸符合产业标准，能适用于大部分的商业 AFM 。 它能配上 DI/Veeco AFM, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging 和其他的商业 AFM
在这种产品支架背上有调节凹槽。
2007 © BudgetSensors, made by ISB Web division Part of NanoWorld Group
电 力 式:
• 扫描电容显微镜 SCM
• 静电力显微镜 EFM
• 表面电位显微镜 KFM
• 扫描探针平版印刷术
• 别的电力式
悬臂双面可以涂上5nm 厚的导电铬涂层和25nm 厚的电导铂涂层。这种涂层可以增强悬臂的激光束反射性。