BudgetSensors
english | español | 中文
sitemap home
BudgetSensors
space
quality meets price
home news distributors gallery downloads contact us
BudgetSensors's AFM probes on-line shop
AFM probes for Tapping Mode, Intermittent Contact Mode
Force Modulation AFM probes
AFM probes for Contact Mode
Conductive AFM probes
Silicon Nitride AFM probes
Gold Coated AFM probes
Magnetic AFM probes
AFM probes with DLC coating
All -In-One AFM Probes
Calibration Standards
BudgetComboBox
 下载产品数据表
Conductive AFM probes
AFM probe Model ElectriTap300 - AFM Tip
AFM probe Model ElectriTap300

ElectriTap300-G AFM 探针
  适用范围:  半接触式、间歇接触式
电力式
  概述:  旋转的单晶硅探针，对称针尖
支架尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm
调节凹槽
  涂层:  双面的导电铬、铂涂层
AFM probe Model ElectriTap300 - AFM Tip AFM 探针是微制造的单晶硅探针。 它具有优良的均匀度、锐针尖半径。 我们能保证针尖半径小于10nm，以便保证高分辨性和重现性。

这种对称的针尖安装在探针时产生“扫描倾斜角”效果，这能保证 200nm 以上的细节的更平衡成像。
2007 © BudgetSensors, made by ISB Web division Part of NanoWorld Group
电 力 式:
• 扫描电容显微镜 SCM
• 静电力显微镜 EFM
• 表面电位显微镜 KFM
• 扫描探针平版印刷术
• 别的电力式
悬臂双面可以涂上5nm 厚的导电铬涂层和25nm 厚的电导铂涂层。这种涂层可以增强悬臂的激光束反射性。