Nuestra solución:

CS-20NG es una avanzada nanorejilla de calibración XYZ que permite una calibración por encima del nivel del nanometer. Representa un conjunto de estructuras de Dióxido de Silicio sobre un chip de Silicio con dimensiones de 5x5 mm. El proceso de fabricación garantiza una perfecta uniformidad de las estructuras del chip, lo que permite una calibración fácil y fiable  del eje Z de su sistema de AFM.

La área de calibración está situada en el centro del chip. Es fácil de encontrar con el sistema óptico de AFM.

La altura de las estructuras es de 20nm. El valor exacto de cada chip está indicado en la etiqueta de la caja. Sobre el chip están integrados conjuntos de estructuras de formas e intervalos diferentes. El cuadro mayor (1x1mm) contiene pilares cuadrados y orificios con intervalos de 10nm. El cuadro medio contiene pilares circulares y orificios, así como líneas de dirección X e Y con intervalos de 5 nm. El menor cuadro contiene orificios circulares de intervalos de 500nm.

CS-20NG  es conveniente para ambas calibraciones del scanner de  AFM - lateral y vertical.  La simetría de las estructuras hace posible la calibración de su sistema de AFM de una vez sin la necesidad de rodar el estándar entre les calibrados de X e Y. El chip de CS-20NG está pegado sobre un disco metálico de 12 mm con resina epoxi de alta calidad y conductora de electricidad y está listo para el uso inmediato.