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Sonda de AFM Modelo: AIO

    Aplicación: 

Diferentes regimenes de medición

  Descripción:  Sonda rotada monolítica de silicio
Forma simétrica de la punta
Dimensiones del chip: 3.4 x 1.6 x 0.3mm
 Recubrimiento:  no
  Datos técnicos:  Esta sonda utiliza puntas con una inclinación hacia la dirección de la medición para obtener una imagen más simétrica de las estructuras de más de 200 nm.

All-In-OneLas sondas Todo-En-Uno ofrecen cuatro cantilevers con geometría diferente para cada régimen topográfico de medición: modo de contacto, modulación de fuerza, contacto intermitente suave y contacto intermitente. Las frecuencias de resonancia y los coeficientes de elasticidad son semejantes a las de los modelos conocidos Contact, Multi75, Tap150 y Tap300.

Los cantilevers largos – A para modo de contacto y B para modulación de fuerza están colocados en un lado del chip, y los cantilevers cortos – C para modo de contacto intermitente suave y D para modo de contacto intermitente quedan en el lado opuesto. El lado con los cantilevers cortos está marcado con un trapecio visible a ojo desnudo.



Cantilever Aplicación Semejante a Especificacíon
Valores habituales
Banda
A Modo de Contacto Contact Longitud
500 μm +/- 10 μm
Anchura
30 μm +/- 5 μm
Espesor
2.7 μm +/- 1 μm
B Modulación de Fuerza Multi75 Longitud
210 μm +/- 10 μm
Anchura
30 μm +/- 5 μm
Espesor
2.7 μm +/- 1 μm
C Contacto Intermitente Suave Tap150-G Longitud
150 μm +/- 10 μm
Anchura
30 μm +/- 5 μm
Espesor
2.7 μm +/- 1 μm
D Contacto Intermitente Tap300 Longitud
100 μm +/- 10 μm
Anchura
50 μm +/- 5 μm
Espesor
2.7 μm +/- 1 μm
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