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Sonda de AFM modelo Contact |
| Aplicación: |
Modo de contacto |
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| Descripción: |
silicio monolítico con forma simétrica de la punta;
dim.: 3.4 x 1.6 x 0.3 mm |
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| Recubrimiento: |
no tiene [Al reflexión - opcional] |
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| Datos técnicos: |
Frecuencia resonante: 13 kHz
Constante de fuerza: 0.2 N/m |
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El portacantilever tiene dimensiones estándares y es compatible con la mayoría de los microscopios AFM existientes. Puede utilisarse con DI/Veeco AFMs, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging, etc. |
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