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Sonda de AFM modelo ContDLC |
| Aplicación: |
Modo de contacto |
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| Descripción: |
sonda de silicio monolítico; punta forma - simétrica; dim.: 3.4 x 1.6 x 0.3 mm
Ranuras de Alineación |
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| Recubrimiento: |
Recubrimiento de Carbono semejante al diamante sobre el cantilever por el lado de la punta, espesor de 15 nm;
Recubrimiento de reflexión de aluminio por el lado detector del cantilever, espesor de 30 nm |
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| Datos técnicos: |
Frecuencia resonante: 13 kHz,
Constante de fuerza: 0.2 N/m |
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El portacantilever tiene dimensiones estándares y es compatible con la mayoría de los microscopios AFM existientes. Puede utilisarse con DI/Veeco AFMs, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging, etc. Este producto tiene ranuras de alineación al reverso del chip portador. |
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