Puntas de AFM, Punta de AFM Sonda Conductora, Ranuras de Alineación, ElectriMulti75-G

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Sondas Conductoras

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Sonda de AFM modelo: ElectriMulti75-G
Aplicación:	Modulación de Fuerza, Modo de Fuerza Pulsada (PFM) y modos de medidas eléctricas

Descripción:	silicio monolítico; forma simétrica de la punta; dim.: 3.4 x 1.6 x 0.3 mm Ranuras de Alineación

Recubrimiento:	recubrimiento conductor de electricidad

Sonda de AFM modelo ElectriMulti75-G - Punta de AFM

La punta de AFM es una sonda monolítica de silicio fabricada con microfabricación con una perfecta uniformidad y punta muy aguda. La dimensión del radio de la punta que es de menos de 25 nm ofrece una buena resolución y reproducción de los detalles de la imagen.

Esta sonda utilisa la punta simétrica con "un ángulo de barrido" para proporcinar una representación más clara de los detalles de más de 200 nm.

Part of NanoWorld Group

Modos de medidas eléctricas:

• El Microscopio de Escaneo de Capacitancia (SCM),
• El Microscopio de Fuerza Electrostática(EFM),
• Kelvin probe Force Microscopy (KFM),
• Litografía de la Microscopía de barrido ,
• Otros Modos Eléctricos

Recubrimiento conductor de 5 nm de cromo y de 25 nm de platino de los dos lados del cantilever. Este recubrimiento aumenta también la reflexibilidad del láser del cantilever.

Sonda de AFM modelo: ElectriMulti75-G