Portacantileveres de AFM, Portacantilever de AFM Sonda Conductora, Ranuras de Alineación, ElectriMulti75-G

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Sondas Conductoras

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Sonda de AFM modelo: ElectriMulti75-G
Aplicación:	Modulación de Fuerza, Modo de Fuerza Pulsada (PFM) y modos de medidas eléctricas

Descripción:	silicio monolítico; forma simétrica de la punta; dim.: 3.4 x 1.6 x 0.3 mm Ranuras de Alineación

Recubrimiento:	recubrimiento conductor de electricidad

Sonda de AFM modelo ElectriMulti75-G - Portacantilever de AFM

El portacantilever tiene dimensiones estándares y es compatible con la mayoría de los microscopios AFM existientes. Puede utilisarse con DI/Veeco AFMs, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging, etc. Este producto tiene ranuras de alineación al reverso del chip portador.

Part of NanoWorld Group

Modos de medidas eléctricas:

• El Microscopio de Escaneo de Capacitancia (SCM),
• El Microscopio de Fuerza Electrostática(EFM),
• Kelvin probe Force Microscopy (KFM),
• Litografía de la Microscopía de barrido ,
• Otros Modos Eléctricos

Recubrimiento conductor de 5 nm de cromo y de 25 nm de platino de los dos lados del cantilever. Este recubrimiento aumenta también la reflexibilidad del láser del cantilever.

Sonda de AFM modelo: ElectriMulti75-G