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Sonda de AFM modelo: SiNi |
| Aplicación: |
Modo del Contacto Suave |
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| Descripción: |
4 nitruro de silicio cantilevers, triangular,
2 diversas longitudes
(dim: 3.4 x 1.6 x 0.45 mm) |
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| Recubrimiento: |
70 nm espesor Au/Cr |
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| Datos técnicos: |
Frecuencia resonante:
30 kHz and 10 kHz;
Constante de fuerza:
0.27 N/m and 0.06 N/m |
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El portacantilever tiene dimensiones estándares y es compatible con la mayoría de los microscopios AFM existientes. Puede utilisarse con DI/Veeco AFMs, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging y demás Microscopios AFM |
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