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Sonda de AFM modelo: SiNi |
| Aplicación: |
Modo del Contacto Suave |
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| Descripción: |
4 nitruro de silicio cantilevers, triangular,
2 diversas longitudes
(dim: 3.4 x 1.6 x 0.45 mm) |
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| Recubrimiento: |
70 nm espesor Au/Cr |
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| Datos técnicos: |
Frecuencia resonante:
30 kHz and 10 kHz;
Constante de fuerza:
0.27 N/m and 0.06 N/m |
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valores habituales |
banda |
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Cantilever corto |
Cantilever largo |
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| Frecuencia Resonante |
30 kHz |
10 kHz |
- |
| Constante de fuerza |
0.27 N/m |
0.06 N/m |
- |
| Longitudes |
100 µm |
200 µm |
± 10 µm |
| Anchuras |
16 µm |
30 µm |
± 5 µm |
| Espesores |
520 nm
(450 nm SiNi + 70 nm recub.) |
± 50 nm |
| Punta piramidal altura (Wedge Tip) |
12 µm (total)
> 800 nm (eficaz) |
± 2 µm
- |
| Dos puntitas espacio |
4.5 µm |
± 0.5 µm |
| Radio de la punta |
< 15 nm |
| Medio cono ángulos |
35° (macroscópico) |
| Recub. de reflexión |
70 nm espesor Au/Cr |
| cantilever torsión |
< 3° |
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