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Sonda de AFM modelo: SiNi |
| Aplicación: |
Modo del Contacto Suave |
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| Descripción: |
4 nitruro de silicio cantilevers, triangular,
2 diversas longitudes
(dim: 3.4 x 1.6 x 0.45 mm) |
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| Recubrimiento: |
70 nm espesor Au/Cr |
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| Datos técnicos: |
Frecuencia resonante:
30 kHz and 10 kHz;
Constante de fuerza:
0.27 N/m and 0.06 N/m |
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La punta piramidal (wedge tip) afilada por medio de oxidación es bifurcada (doble punta). La protuberancia al final del cantilever se utilisa para crear imágenes, teniendo en cuenta que el cantilever es sujetado bajo un ángulo de 13 grados aproximadamente y por esta razón solamente una de las dos puntas mantiene el contacto si la superficie de prueba está suficiente plana (o sea, las cavidades no son mayores de 800 nm). |
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