sonda inclinada de silicio monolítico con punta simétrica; portacantilever:
3.4 x 1.6 x 0.3 mm Ranuras de Alineación
Recubrimiento:
Recubrimiento de Carbono semejante al diamante sobre el cantilever por el lado de la punta, espesor de 15 nm; Recubrimiento de reflexión de aluminio por el lado detector del cantilever, espesor de 30 nm
Datos técnicos:
Frecuencia resonante: 150 kHz,
Constante de fuerza 5 N/m
La punta de AFM es una sonda monolítica de silicio fabricada con microfabricación con una perfecta uniformidad y punta muy aguda. La dimensión del radio de la punta que es de menos de 15 nm ofrece una buena resolución y reproducción de los detalles de la imagen.
Esta sonda utilisa la punta simétrica con "un ángulo de barrido" para proporcinar una representación más clara de los detalles de más de 200 nm.
El duro recubrimiento del Carbono semejante al diamante por el lado de la punta proporciona menor desgaste de la punta y mayor duración.
