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Sonda de AFM modelo Tap300DLC |
| Aplicación: |
Modo de contacto intermitente. |
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| Descripción: |
silicio monolítico con punta simétrica; portacantilever:
3.4 x 1.6 x 0.3 mm
con ranuras de alineación |
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| Recubrimiento: |
Recubrimiento de Carbono semejante al diamante sobre el cantilever por el lado de la punta, espesor de 15 nm;
Recubrimiento de reflexión de aluminio por el lado detector del cantilever, espesor de 30 nm |
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| Datos técnicos: |
Frec. resonante: 300 kHz,
Constante de fuerza 40 N/m |
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El portacantilever tiene dimensiones estándares y es compatible con la mayoría de los microscopios AFM existientes. Puede utilisarse con DI/Veeco AFMs, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging, etc.
Este producto tiene ranuras de alineación al reverso del chip portador. |
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