El portacantilever tiene dimensiones estándares y es compatible con la mayoría de los microscopios AFM existientes. Puede utilisarse con DI/Veeco AFMs, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging, etc.
. El Microscopio de Escaneo de Capacitancia (SCM), . El Microscopio de Fuerza Electrostática(EFM), . Kelvin probe Force Microscopy (KFM), . Litografía de la Microscopía de barrido , . Otros Modos Eléctricos
Recubrimiento conductor de 5 nm de cromo y de 25 nm de platino de los dos lados del cantilever. Este recubrimiento aumenta también la reflexibilidad del láser del cantilever.