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| Modos de medidas eléctricas:
. El Microscopio de Escaneo de Capacitancia (SCM), . El Microscopio de Fuerza Electrostática(EFM), . Kelvin probe Force Microscopy (KFM), . Litografía de la Microscopía de barrido , . Otros Modos Eléctricos |
| Recubrimiento conductor de 5 nm de cromo y de 25 nm de platino de los dos lados del cantilever. Este recubrimiento aumenta también la reflexibilidad del láser del cantilever. |